| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16c.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZ3P8SECKy/DTtpB |
| Repositório | sid.inpe.br/jeferson/2004/10.26.17.10 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2006:06.14.04.15.04 (UTC) marciana |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/jeferson/2004/10.26.17.10.36 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.04.04.22.33 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-11487-PRE/6892 |
| ISSN | 0018-9456 |
| Chave de Citação | Nubile:1997:DeChPn |
| Título | Deep-level characterization of p-n junction devices using trigonometric weight functions  |
| Projeto | CELSOL: Células solares |
| Ano | 1997 |
| Mês | Oct. |
| Data de Acesso | 18 maio 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PI |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 385 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | Nubile, Paulo |
| Identificador de Curriculo | 8JMKD3MGP5W/3C9JJ3D |
| Grupo | LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) |
| Revista | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement |
| Volume | 46 |
| Número | 5 |
| Páginas | 1156-1159 |
| Histórico (UTC) | 2004-10-28 13:54:13 :: marciana -> administrator :: 2006-09-27 21:00:45 :: administrator -> marciana :: 2008-05-02 16:20:26 :: marciana -> administrator :: 2014-08-16 18:52:32 :: administrator -> marciana :: 1997 2014-08-20 12:25:50 :: marciana -> administrator :: 1997 2018-06-04 04:22:33 :: administrator -> marciana :: 1997 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Tipo de Versão | publisher |
| Palavras-Chave | MATERIALS PHYSICS Capacitance transients Deep levels Deep-level transient spectroscopy (DLTS) Defects DX centers Trap characterization in semiconductors FÍSICA DE MATERIAIS Transientes de capacitância Níveis profuntdos Espectroscopia Defeitos Centro DX |
| Resumo | This paper describes a method to treat capacitance transients in semiconductor junctions using trigonometric weight functions, The method is a variation of the classical deep-level transient spectroscopy (DLTS) technique using a double lock-in, The technique is suitable for measurements where the integrator module or lock-in amplifier works with a combination of sinusoidal functions multiplying the input signal before integration, The sensitivity and resolution of the method are determined and compared with the main variations of the DLTS technique, Experimental data for DX centers in p(+)/n AlGaAs junctions are discussed, For a sample having single defects, as DX centers, the proposed method enables the defect characterization using only one spectrum. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Deep-level characterization of... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | deep-level characterization.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator marciana |
| Grupo de Leitores | administrator marciana |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | denypublisher allowfinaldraft |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| Permissão de Atualização | não transferida |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.57.56 1 |
| Divulgação | WEBSCI; IEEEXplore. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/mtc-m18@80/2008/03.17.15.17 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url |
| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |